Itunilai yang dapat diterima untukPengujian VLF (frekuensi sangat rendah)Bergantung pada beberapa faktor seperti jenis peralatan yang diuji, peringkat tegangannya, dan standar atau spesifikasi yang diikuti. Namun, ada pedoman umum untuk menafsirkan hasil tes VLF berdasarkan standar industri.
Berikut adalah rincian nilai -nilai yang dapat diterima dan pertimbangan utama selamaPengujian VLF:
1. Lulus/Gagal Kriteria untukPengujian VLF
Lulus kriteria:
Biasanya, peralatan (seperti kabel, transformator, dan isolasi tegangan tinggi lainnya) dianggap telah lulus uji VLF jikaInsulasi tahan terhadap tegangan VLF yang diterapkantanpahancuratau menunjukkan tanda -tandakebocoran listrik, pelepasan parsial, atauPemanasan berlebihan.
Peralatan harus ditampilkanTidak ada tanda -tanda degradasiselama dan setelah tes. Jika peralatan dapat menangani stres tanpa rusak, itu umumnya diterima sebagaikeadaan baik.
Kriteria gagal:
Jika isolasi menunjukkan tanda -tandapelepasan parsial, Flashover, pencetusan, ataukerusakan isolasi, itu dianggap gagal.
Arus kebocoran tinggi(Melebihi ambang batas tertentu) selama pengujian juga merupakan indikator kegagalan. Biasanya, jika arus bocor melebihibatas yang ditentukanUntuk durasi tes, peralatan gagal.
2. Tegangan uji
Tegangan uji VLF biasanya diatur pada aPersentase tegangan pengenalperalatan yang sedang diuji. Nilai yang paling umum adalah sebagai berikut:
Pengujian kabel:
Untukisolasi kabelpengujian, VLF sering diterapkan di2. 0 kaliituTegangan Dinilai(juga dikenal sebagaitegangan uji).
Contoh: Jika kabel memiliki tegangan pengenal12 kV, tegangan uji untuk pengujian VLF akan24 kV.
Pengujian transformator:
UntukTransformer, Pengujian VLF dapat dilakukan di1,73 kalitegangan pengenal (faktor ini menyumbangtegangan garis-ke-garisdalam sistem tiga fase).
Contoh: untuk a12 kVTransformer, tegangan uji VLF mungkin20,8 kV (i.e., 1,73 x 12 kV).
Durasi tes:
Durasi uji VLF standar untuk sebagian besar peralatan biasanya30 menit, tetapi dapat bervariasi berdasarkan jenis peralatan atau standar yang berlaku. Tes harus bertahan cukup lama untuk mensimulasikan tekanan yang dihadapi dalam operasi aktual.
3. Kebocoran saat ini (batas yang dapat diterima)
Selama pengujian VLF,arus bocor(Arus yang melewati isolasi) diukur untuk memastikan bahwa isolasi tidak rusak. Yang bisa diterimaarus bocorNilai biasanya ditentukan oleh pabrikan atau standar industri sepertiIEEE 400.2, IEC 60060, atauASTM D2671. Di bawah ini adalah Pedoman Umum:
Arus kebocoran awal:
Selama menit pertama pengujian, arus bocor biasanya dimulai lebih tinggi dan harusmenstabilkanSaat tes berlangsung. ItuLonjakan awalharus diperiksa, dan apapunpeningkatan abnormalsetelah itu memprihatinkan.
Arus kebocoran yang dapat diterima:
Untukkabel tegangan tinggi,arus kebocoran yang dapat diterimabiasanya merupakan sebagian kecil dari tegangan yang diterapkan, sering diekspresikanMicroamperes (μA)atauMilliamperes (MA).
Ituarus bocorbatas akan bervariasi tergantung pada faktor -faktor seperti usia, jenis, dan desain kabel, tetapiarus kebocoran yang dapat diterimabiasanya dalam kisaran100 μA hingga 1 mAuntuk kabel dalam kondisi baik. Arus bocor yang berlebihan menunjukkan potensi kerusakan isolasi atau kelemahan.
Ambang batas untuk kegagalan:
Jika arus bocor melebihi5 ma hingga 10 ma, tes ini sering dianggap gagal. Nilai yang lebih tinggi dapat menunjukkanCacat isolasi, sepertiIngress kelembabanataupelepasan parsialaktivitas.
4. Batas pelepasan parsial (PD)
Kehadiranpelepasan parsialSelama pengujian VLF adalah faktor penting dalam mengevaluasi integritas isolasi:
Level PD yang dapat diterima:
Pelepasan sebagian seharusnyaminimalSelama tes. Banyak standar memungkinkanSejumlah pembuangan parsial terbatasUntuk beberapa aplikasi, tetapi tidak boleh melebihi ambang batas, biasanya diukurPC (Picocoulombs).
Untukkabel dan peralatandalam kondisi baik,pelepasan parsialbiasanya seharusnyaDi bawah 500 pc.
Jika pelepasan parsial melebihi ambang ini, itu bisa menunjukkan atitik lemahatau cacat dalam isolasi yang pada akhirnya dapat menyebabkan kegagalan.
Pengukuran PD:
Peralatan sepertiDetektor debit parsialsering digunakan bersama pengujian VLF untuk mengukurintensitasDanfrekuensidari setiap aktivitas pelepasan parsial.PD yang berlebihanDapat menunjukkan kelembaban atau kontaminasi dalam isolasi, yang dapat menyebabkan kerusakan akhirnya.
5. kenaikan suhu
Selama tes VLF, beberapa peningkatan suhu normal, tetapi pemanasan yang berlebihan dapat menunjukkan masalah dengan kualitas isolasi.
Peralatan yang diuji harustidak mengalami kenaikan suhu yang berlebihanSelama tes VLF.
A kenaikan suhulebih dari5 derajat hingga 10 derajatSuhu sekitar di atas dapat menunjukkan bahwa isolasi itutidak berkinerja baikdi bawah tekanan.
6. Interpretasi Hasil Tes (Kepatuhan Standar)
Beberapa standar internasional memberikan pedoman terperinci tentangnilai yang dapat diterimaUntuk pengujian VLF, termasuk:
IEEE 400.2: Standar ini menyediakan metode untuk mengujiintegritas kabel tegangan tinggimenggunakanVLFdan termasukbatas yang dapat diterimaUntuk arus bocor, debit parsial, dan durasi pengujian.
IEC 60060-1: Standar ini menetapkan pedoman untukPengujian tegangan tinggidengan tegangan AC dan DC, termasukPengujian VLF.
ASTM D2671: Menentukan standar untuk mengujiInsulasi Listrikkabel, yang mencakup kriteria untukPengujian VLF.
7. Ringkasan nilai yang dapat diterima diPengujian VLF
| Parameter | Nilai yang dapat diterima |
|---|---|
| Tegangan uji | Khas2. 0 kali tegangan pengenal(untuk kabel dan peralatan) |
| Durasi tes | 30 menit(standar) |
| Arus bocor | Khas< 1 mAuntuk peralatan yang bagus;>5 madapat menunjukkan kegagalan |
| Debit parsial (PD) | PD seharusnya< 500 pCuntuk isolasi yang sehat |
| Kenaikan suhu | Tidak boleh melebihi5 derajat hingga 10 derajatdi atas suhu sekitar |
Kesimpulan
Itunilai yang dapat diterima untukPengujian VLFterutama ditentukan oleh tegangan pengenal peralatan dan standar yang diuji di bawah. Indikator kunci dari tes yang berhasil termasuk rendaharus bocor, minimalpelepasan parsial, dan stabilsuhu. Jika arus bocor melebihi batas yang dapat diterima, pelepasan parsial terlalu tinggi, atau kenaikan suhu berlebihan, peralatan mungkin gagal dalam tes.




